LSI試作サービス
LSI試作サービス
ウェハファンドリーが提供するプロセスで、OSATが提供するLSIの試作製造を行うサービスです。
特徴
- ・最先端7nm/12nm/16nm汎用ロジックプロセスから、RF、ミックスドシグナル、CMOSイメージセンサー、BCD、SiGe、高耐圧など、目的に応じたウェハファンドリー各社の最適なテクノロジーをご利用頂けます。
- ・開発目的に応じた、MPW試作サービス、MLM試作サービスを提供いたします。
- ・各種ライブラリーのご利用が可能です。
- ・ウェハ提供サービス、ウェハ加工サービス、パッケージングサービス、テスト開発サポートサービスもご提供いたします。
- ・回路デザイン、レイアウトデザイン、およびデータ検証も対応いたします。
- ・量産移行についてもサポートいたします。
ウェハ提供サービス
ウェハファンドリー各社が提供するプロセスの中から、最先端7nm/12nm/16nm汎用ロジックプロセスはじめ、RF、ミックスドシグナル、CMOSイメージセンサー、BCD、SiGe、高耐圧など、目的に応じたウェハファンドリー各社の最適なテクノロジーをご利用頂けます。
■ウェハファンドリーパートナー/プロセス紹介
ウェハ加工サービス
パートナーである外部委託先と連携し、量産用、試作用ウェハ加工を実施します。
◎ウェハのバックグラインド加工
◎ウェハダイシング加工
◎ウェハラッピング加工
◎チップ トレイ詰め
ご要望に合わせてサポート致します。詳細はお問合せ下さい。
■ウェハ加工パートナー紹介
パッケージングサービス
パッケージ量産、試作サポートは、パートナーの外部委託先保有のパッケージにて、量産・試作対応を実施します。
《対応パッケージ例》
プラスチックPKG | BGA、 QFP、 QFN、他 |
セラミックPKG | QFP、DIP、他 |
ウェハレベルPKG |
ご要望のパッケージに合わせて対応します。詳細はお問合せ下さい。
■パッケージングサービスパートナー紹介
日本国内はもとより中国、台湾のサブコンとも連携しております。
・量産対応サブコン
・試作対応サブコン
■パッケージングサービス
PKG type | Pin number | pin pitch | size | PKG HEIGHT |
---|---|---|---|---|
QFP | 44 |
0.8mm |
10×10 | 2.0 |
QFP | 52 |
0.65mm |
10×10 | 2.0 |
QFP | 64 | 10×10 | 2.0 | |
QFP | 52 |
1.00mm |
14×14 | 2.0 |
QFP | 64 |
1.00mm |
14×20 | 2.8 |
QFP | 80 |
0.8mm |
14×20 | 2.8 |
QFP | 100 |
0.65mm |
14×20 | 2.8 |
QFP | 128 |
0.50mm |
14×20 | 2.8 |
QFP | 208 |
0.50mm |
28×28 | 3.4 |
LQFP | 32 |
0.8mm |
7.0×7.0 | 1.4 |
LQFP | 48 |
0.50mm |
7.0×7.0 | 1.4 |
LQFP | 64 |
0.4mm |
7.0×7.0 | 1.4 |
LQFP | 44 |
0.8mm |
10×10 | 1.4 |
LQFP | 48 |
0.65mm |
10×10 | 1.4 |
LQFP | 64 |
0.50mm |
10×10 | 1.4 |
LQFP | 80 |
0.4mm |
10×10 | 1.4 |
LQFP | 80 |
0.50mm |
12×12 | 1.4 |
LQFP | 64 |
0.8mm |
14×14 | 1.4 |
LQFP | 100 |
0.50mm |
14×14 | 1.4 |
LQFP | 128 |
0.4mm |
14×14 | 1.4 |
LQFP | 100 |
0.65mm |
14×20 | 1.4 |
LQFP | 128 |
0.50mm |
14×20 | 1.4 |
LQFP | 176 |
0.50mm |
24×24 | 1.4 |
LQFP | 216 |
0.4mm |
24×24 | 1.4 |
LQFP | 256 |
0.4mm |
28×28 | 1.4 |
テスト開発サポートサービス
◎テスト開発サポート(プログラム開発、テスト治具開発)
テスト開発サポートは、当社外部委託先保有の各種LSIテスタに対応したテストプログラム開発が可能です。
プログラム開発だけでなく、プローブカードやテストボード等の治工具作成、量産立ち上げまで対応致します。また、テストタイムの最適化やマルチサイト測定等、量産時のテストコスト削減案などもサポートします。
◎量産テスト管理サポート
製品情報に伴い最適なスキームを提案し、工程間のTAT調整、ロット歩留り管理、品質異常対応等を一環で当社で対応致します。
◎テスト実績紹介
XXGHz Sardes | CMOSイメージセンサー | RF IC | Power IC |
高速AD/DA チューナーIC | 他ミックスドシグナルIC |
■テストハウス紹介
日本国内はもとより中国、台湾のテストハウスとも連携しております。